Сегодня: 21.06.2025
RU / EN
Последнее обновление: 30.04.2025
Принципы флюоресцентной микроскопии cверхвысокого разрешения (обзор)

Принципы флюоресцентной микроскопии cверхвысокого разрешения (обзор)

Н.В. Клементьева, Е.В. Загайнова, К.А. Лукьянов, А.С. Мишин
Ключевые слова: дифракционный предел; субдифракционная флюоресцентная микроскопия; микроскопия структурированного освещения; микроскопия истощения флюоресценции вынужденным излучением; локализационная микроскопия одиночных молекул.​
2016, том 8, номер 2, стр. 130.

Полный текст статьи

html pdf
4940
4990

Дифракционный предел разрешения светового микроскопа препятствует наблюдению биологических объектов, размеры которых меньше длины световой волны. Традиционная флюоресцентная микроскопия не позволяет исследовать ультраструктуру, а также процессы, протекающие в живой клетке на уровне макромолекулярных комплексов. Разработка методов высокоразрешающей флюоресцентной микроскопии, преодолевающих дифракционный предел, открыла новые возможности для исследований в сфере биологии и биомедицины. Эти технологии совмещают в себе разрешение, сопоставимое с электронной микроскопией, с неинвазивностью и специфическим мечением, присущими флюоресцентному имиджингу. Рассмотрены современные методы флюоресцентной микроскопии сверхвысокого разрешения, описаны их принципы и области применения. Отмечены ключевые достижения и тенденции развития технологий высокоразрешающей флюоресцентной микроскопии.


Журнал базах данных

pubmed_logo.jpg

web_of_science.jpg

scopus.jpg

crossref.jpg

ebsco.jpg

embase.jpg

ulrich.jpg

cyberleninka.jpg

e-library.jpg

lan.jpg

ajd.jpg

SCImago Journal & Country Rank